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Con el surgimiento de nuevas técnicas de elaboración y el descubrimientode nuevos compuestos, el rango de aplicación de las películas delgadaspresenta un crecimiento acelerado en los últimos años. Por tal razón, es degran importancia el desarrollo de técnicas de análisis y caracterización quepermitan la obtención de magnitudes propias de las mismas, pero que seandifíciles de determinar por medio de medición directa. El principal objetivode este trabajo es comparar algunas de las técnicas mas usadas, particularmenteen la determinación del espesor y el indice de refracción de las películasdelgadas mediante mediciones de transmitancia, ya que los métodosexistentes restringen su aplicación a un grupo dado de películas delgadasde acuerdo a ciertas propiedades que están de acuerdo con la limitacionesteóricas de los métodos. En el presente estudio se revisan los métodos de[Nenkov], [Bhattacharyya] y [Swanepoel] aplicándolos a diferentes películasy evidenciando su campo de aplicación, ventajas y desventajas.