Por defecto:
5.3.Uso de XPS como herramienta analítica para estudiar la contaminación por teflón en la preparación de catalizadores.
Última modificación: 2018-04-11
Resumen
En este trabajo se estudió mediante la Espectroscopia Fotoelectrónica de Rayos X (XPS), la presencia de flúor como contaminante en catalizadores de tipo Mo
(VI)O2X24,4'-(Ln) anclado
en TiO2
(Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl,
-OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una banda de alta intensidad ubicada a ≈689,3 eV, la cual hace referencia a flúor
correspondiente a especies tipo –CF2– presentes en el teflón1
. Así mismo, el estudio de la señal C 1s permitió evidenciar una banda cercana a 292 eV relacionada al carbono de lasespecies –CF2–. La presencia de teflón en estos materiales puede ser causada por la acción del solvente empleado (benceno) sobre los diversos accesorios de teflón usados en lapreparación de los catalizadores, dentro de los cuales se destaca la cinta de teflón, el agitador magnético y la llave de teflón.
(VI)O2X24,4'-(Ln) anclado
en TiO2
(Ln= dicarboxilato-2,2’-bipiridina; X= Cl,
-OH). El estudio de la señal F 1s permitió evidenciar una banda de alta intensidad ubicada a ≈689,3 eV, la cual hace referencia a flúor
correspondiente a especies tipo –CF2– presentes en el teflón1
. Así mismo, el estudio de la señal C 1s permitió evidenciar una banda cercana a 292 eV relacionada al carbono de lasespecies –CF2–. La presencia de teflón en estos materiales puede ser causada por la acción del solvente empleado (benceno) sobre los diversos accesorios de teflón usados en lapreparación de los catalizadores, dentro de los cuales se destaca la cinta de teflón, el agitador magnético y la llave de teflón.
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